专利名称 | 一种V型单纳米颗粒多种类检测装置 | ||
申请号 | CN201821937407.7 | 申请日 | |
公开(公告)号 | CN209878648U | 公开(公告)日 | |
申请(专利权)人 | 海南大学 | 发明人 | 黄志维; 葛鉴; 邓鲁豫; 吉祥; 方海旋; 梁栋; 周腾; 史留勇 |
专利来源 | 国家知识产权局 | 转化方式 | 委托人转化 |
摘要 |
本实用新型属于纳米流控芯片领域,具体公开了一种V型单纳米颗粒多种类检测装置,包括接正电压的电极、V型入口通道、矩形挡块、直检测通道、矩形出口通道、接零电压的电极、电流表、外接电源;矩形挡块位于V型入口通道里面;该装置接正电压的电极与V型入口通道相连,V型入口通道分别与第一直检测通道、第二直检测通道、第三直检测通道相连。本实用新型的优势在于:V型单纳米颗粒多种类检测装置结构尺寸小,没有复杂的纳流体通道结构,单个待检测颗粒流过直径直检测通道时,读取出对应电流表电流量来确认通过颗粒种类,在同一次检测中可以检测颗粒大小分布不均的多种类颗粒。 |
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