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专利概况
专利名称 激光测距卷尺(二合为一SW-LTM70)
申请号 CN201830011378.0 申请日
公开(公告)号 CN304787514S 公开(公告)日
申请(专利权)人 东莞市森威电子有限公司 发明人 何刚
专利来源 国家知识产权局 转化方式
摘要

1.本外观设计产品的名称:激光测距卷尺(二合为一SW‑LTM70)。2.本外观设计产品的用途:本外观设计产品用于室内装潢设计及建筑施工,工程监理现场工程查验,房地产开发及评估, 消防评估等。3.本外观设计产品的设计要点:产品的外观造型。4.最能表明本外观设计设计要点的图片或照片:立体图。

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