本发明公开了一种非晶态二氧化硅比表面积的测定方法，包括以下步骤：(1)取非晶态SiO2，测定其XRD中2θ值；(2)BET比表面积预测：Y＝x 60.71‑1183.94；Langmuir比表面积预测：Y＝x 140.43‑2832.16；其中，x为2θ值，Y为BET比表面积和/或Langmuir比表面积。本发明方法省时省力，方便快捷，经济便宜，且无需前处理，具备推广应用的价值。