专利名称 | 检查装置、PTP包装机和PTP片的制造方法 | ||
申请号 | CN201910559355.7 | 申请日 | |
公开(公告)号 | CN110775374A | 公开(公告)日 | |
申请(专利权)人 | CKD株式会社 | 发明人 | 田口幸弘; 大山刚; 坂井田宪彦 |
专利来源 | 国家知识产权局 | 转化方式 | |
摘要 |
本发明的课题在于提供一种检查装置和PTP包装机、以及PTP片的制造方法。可更加适合地进行涉及设置在PTP片上的刻印的检查。刻印检查装置(31)包括:照明装置(52),其可从容器膜的外面侧越过该容器膜,对PTP膜(9)的罩面膜照射光;摄像装置(53),其可从容器膜的外面侧越过该容器膜,对照射了该光的上述罩面膜进行摄像,照射到PTP膜(9)的光相对容器膜的平坦部的外面的入射角度(α)设定在下述的规定的大入射角度,在该大入射角度为,射入容器膜的光中的从刻印而反射、从容器膜而射出的光基本射入摄像装置(53),并且从罩面膜的普通部而反射,从容器膜而射出的光基本不射入摄像机构(53)的入射角度。由此,获得与罩面膜的普通部相比较,刻印明亮地显示的图像数据,进行刻印的检测和检查。 |
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